Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP - E-book - PDF

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François Bergeret et Sabine Mercier - Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP.
La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n'a jamais été aussi importante qu'aujourd'hui, entraînant un bond en avant de... Lire la suite
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Résumé

La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n'a jamais été aussi importante qu'aujourd'hui, entraînant un bond en avant de la statistique industrielle, discipline visant à utiliser ces données dans le but de contrôler, fiabiliser et optimiser les procédés industriels. Après avoir détaillé l'évaluation et la maîtrise des systèmes de mesure, le concept d'estimation et son lien avec l'échantillonnage, les plans d'échantillonnage, les cartes de contrôle et l'aptitude des procédés, cet ouvrage présente 7  cas d'étude issus de problèmes industriels dans des domaines aussi variés que la microélectronique, l'aéronautique, l'industrie pharmaceutique et l'automobile.
Le lien entre la maîtrise statistique des procédés et la maintenance prédictive fait aussi l'objet d'une analyse concrète.

Caractéristiques

  • Caractéristiques du format PDF
    • Pages
      240
    • Taille
      5 282 Ko
    • Protection num.
      Contenu protégé
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À propos des auteurs

Consultant en statistique et chargé d'enseignement, il intervient dans de nombreuses entreprises industrielles pour la société Ippon qu'il a créée en 2007, ainsi que dans les grandes écoles et universités. Maîtresse de conférences en mathématiques appliquées à l'université de Toulouse II, et professeure de maîtrise statistique des procédés en master professionnel depuis 2000. Elle intervient également régulièrement en entreprise depuis 2014.

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