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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.
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Caractéristiques

  • Date de parution
    01/03/1986
  • Editeur
    Scuola normale superiore
  • ISBN
    978-0-306-42140-2
  • EAN
    9780306421402
  • Présentation
    Cartonné
  • Poids
    0.721 Kg
  • Dimensions
    16,0 cm × 23,6 cm × 2,7 cm

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